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安居院 あかね; 水牧 仁一朗*; 朝日 透*; 佐山 淳一*; 籠宮 功*; 松本 幸治*; 森河 剛*; 逢坂 哲彌*
no journal, ,
垂直磁気記録方式が実用化される機運が高まり、超高密度磁気記録を実現する材料開発が切望されている。希土類-遷移金属(RE-TM)アモルファス薄膜はSperri磁性構造をもち、ある組成において垂直磁気異方性を示すことから、有望な垂直磁気記録媒体として着目されている。ミクロスコピックな知見を得る測定方法として硬X線磁気円二色性(MCD)を用いたMCD測定は得られる情報が元素選択的・軌道選択的でありRE-TM薄膜のように複数の磁性元素で構成される磁性体のミクロスコピックな磁気的性質を調べるのに有効な手段である。今回はDyの5d, Co 4p電子に着目して元素別ヒステリシス測定を行ない、マクロなヒステリシスループと振る舞いが異なることを見いだした。
Co
by means of magnetic circular dichroism安居院 あかね; 水牧 仁一朗*; 朝日 透*; 佐山 淳一*; 籠宮 功*; 松本 幸治*; 森河 剛*; 逢坂 哲彌*
no journal, ,
希土類-遷移金属(RE-TM)アモルファス薄膜はSperri磁性構造をもち、ある組成において垂直磁気異方性を示すことから、有望な垂直磁気記録媒体として着目されている。ミクロスコピックな知見を得る測定方法として硬X線磁気円二色性(MCD)を用いたMCD測定は得られる情報が元素選択的・軌道選択的でありRE-TM薄膜のように複数の磁性元素で構成される磁性体のミクロスコピックな磁気的性質を調べるのに有効な手段である。今回はDyの5d, Co 4p電子に着目して元素別ヒステリシス測定を行ない、マクロなヒステリシスループと振る舞いが異なることを見いだした。
田中 真人*; 中村 尚倫*; 朝日 透*; 逢坂 哲彌*; 津森 俊宏*; 安居院 あかね; 水牧 仁一朗*
no journal, ,
超高密度磁気記録に有望な垂直二層膜磁気記録媒体の開発には、高飽和磁束密度を有する軟磁性薄膜から成る裏打ち層と呼ばれる磁性薄膜の研究が鍵となっている。本研究では裏打ち層としてCoNiFe無電解めっき膜を用い、偏光変調方式による軟X線磁気円二色性の測定から、この裏打ち層の元素別磁気特性を明らかにした。